- 技術(shù)參數(shù)
Technical parameters
- 實(shí)驗(yàn)案例
Experimental cases
- 應(yīng)用提示
Application Tips
- 配件詳情
Accessory Details
產(chǎn)品特征
測(cè)試儀由M-5型主機(jī)和四探針探頭以及快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái)三部分組成
臺(tái)式設(shè)計(jì),帶完善厚度、形狀修正功能,測(cè)試精準(zhǔn)
寬量程:超寬五個(gè)檔位,相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程
操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示
多款探頭可選,適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測(cè)試
工作電源
208- -240V,50/60Hz
功率: 20W
探頭
根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配:
碳化鎢探針探頭(固體材料) : φo. 5mm,探針間距1. 0m,測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料
球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜) : φo. 7mn,探針間距2mm,可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、IT0膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層(詳見圖2)
探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差
選配
快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái),對(duì)測(cè)試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測(cè)試,提高測(cè)試的精確度
測(cè)量范圍、分辨率
電阻: 10~5~2*105a 分辨率: 106~102 s
電阻率: 10~5~2*105a-cm 分辨率: 106~102 a-cm
方塊電阻: 5*10~5~9*10a/ 分辨率: 5*10-6~5*10-2 a/m2
基本誤差
±1%FSB±2LSB
外形尺寸
220mm L x 245mm W x 100mm H
凈重
2.5kg
質(zhì)保期
一年質(zhì)保期,終生維護(hù)
測(cè)試儀由M-5型主機(jī)和四探針探頭以及快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái)三部分組成
臺(tái)式設(shè)計(jì),帶完善厚度、形狀修正功能,測(cè)試精準(zhǔn)
寬量程:超寬五個(gè)檔位,相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程
操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示
多款探頭可選,適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測(cè)試
工作電源
208- -240V,50/60Hz
功率: 20W
探頭
根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配:
碳化鎢探針探頭(固體材料) : φo. 5mm,探針間距1. 0m,測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料
球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜) : φo. 7mn,探針間距2mm,可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、IT0膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層(詳見圖2)
探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差
選配
快速恒壓四探針測(cè)試臺(tái),對(duì)測(cè)試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測(cè)試,提高測(cè)試的精確度
測(cè)量范圍、分辨率
電阻: 10~5~2*105a 分辨率: 106~102 s
電阻率: 10~5~2*105a-cm 分辨率: 106~102 a-cm
方塊電阻: 5*10~5~9*10a/ 分辨率: 5*10-6~5*10-2 a/m2
基本誤差
±1%FSB±2LSB
外形尺寸
220mm L x 245mm W x 100mm H
凈重
2.5kg
質(zhì)保期
一年質(zhì)保期,終生維護(hù)
0