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多功能衍射儀

產(chǎn)品型號:DX-2700BH
產(chǎn)品品牌:上海升利
產(chǎn)品概述:
組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復(fù)合材料、有機材料、納米材料、超導(dǎo)材料??梢苑治龅牟牧蠣顟B(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。廣泛應(yīng)用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領(lǐng)域。

特征

1、DX系列銜射儀為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計的,是常規(guī)分析與特殊目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品

硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的完美結(jié)合,滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要
高精度的衍射角度測量系統(tǒng),獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果
高穩(wěn)定性的射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度
各種功能附件滿足不同測試目的需要
程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計,操作簡便、儀器外型更美觀

2、謝線謝儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的種通用性測試儀器
未知樣品中一種和多種物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結(jié)構(gòu)解析(Rietve1d結(jié)構(gòu)分析)
非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化(高溫、低溫條件下)
薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度微區(qū)樣品的分析
金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析


選配

完善的品質(zhì)與卓越性能的結(jié)合
Dx系列衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有超強的分析能力
高精度的機械加工, 使附件安裝位置的重現(xiàn)性極大地提高,軟件自動識別相應(yīng)附件,不需要對光路進行校準(zhǔn),附件安裝實現(xiàn)即插即用,最簡單的操作就可滿足特殊目的測量的需要。

示例
[高性能與實用的完美結(jié)合]
基于θ-θ幾何光學(xué)設(shè)計,便于樣品的制備和各種附件的安裝
金屬陶瓷對線管的應(yīng)用,極大提高衍射儀運行功率
封閉正比計數(shù)器,耐用免維護
硅漂移探測器具有優(yōu)越的角度分辨率和能量分辨率,測量速度提高3倍以上
豐富的衍射儀附件,滿足不同分析目的需要
衍謝儀各種功能附件自動識別

模塊化設(shè)計或稱即插即用組件,操作人員不需要校正光學(xué)系統(tǒng),就能正確使用衍射儀相應(yīng)附件


數(shù)據(jù)分析

[數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能]
基本數(shù)據(jù)處理功能(尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、K01、a. 2剝離、衍射線條指標(biāo)化等) ;

無標(biāo)準(zhǔn)樣品快速定量分析
晶粒尺寸測量
晶體結(jié)構(gòu)分析 (晶胞參數(shù)測量和精修)

多重繪圖的二維和三維顯示
衍射峰圖群聚分析
衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線
衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線
基于Rietveld常規(guī)定量分析
使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是用戶數(shù)據(jù)庫進行物相定性分析使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是ICSD數(shù)據(jù)庫進行定量分析宏觀應(yīng)力測量和微觀應(yīng)力計算

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  李總:138-1739-9656

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